高密度プリント基板の計算制御光学テスト

WEST M A; DeFOSTER S M; BALDWIN E C; ZIEGLER R A

文献

J-GLOBAL ID：200902074709947910 整理番号：83A0248667

高密度プリント基板の計算制御光学テスト

Computer-controlled optical testing of high-density printed-circuit boards.

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資料名：
巻： 27 号： 1 ページ： 50-58 発行年： 1983年01月
JST資料番号： D0061B ISSN： 0018-8646 CODEN： IBMJAE 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

熱伝導モジュール基板に対する計算機化された解像システムによる...

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固体デバイス計測・試験・信頼性 , プリント回路

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