文献
J-GLOBAL ID：200902078117231519
整理番号：91A0940606
MIC誘電体基板の複素誘電率異方性の温度依存性測定
Temperature-Dependence Measurement of Anisotropy of Complex Permittivity For MIC Dielectric Substrates.
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著者 (2件)：
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資料名：
巻：
91
号：
265(EMCJ91 38-57)
ページ：
117-124
発行年：
1991年10月11日
JST資料番号：
S0532B
ISSN：
0913-5685
資料種別：
会議録 (C)
記事区分：
原著論文
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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準シソーラス用語：
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分類 (2件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
プリント回路
, R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器
タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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