MARTIN Y について
IBM Research Division, NY, USA について
ABRAHAM D W について
IBM Research Division, NY, USA について
WICKRAMASINGHE H K について
IBM Research Division, NY, USA について
Applied Physics Letters について
電子顕微鏡観察 について
AFM について
半導体-半導体接触【’81~’92】 について
顕微鏡法 について
原子間力顕微鏡 について
高分解能 について
静電容量測定 について
電位差測定 について