ファイ(Φ)-プサイ(Ψ)自動ゴニオメータによる単結晶と大粒子のひずみ測定

文献

J-GLOBAL ID：200902080314547425 整理番号：85A0474140

Strain measurements on single crystals and macrograins with the aid of an automated phi-psi goniometer.

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資料名：
巻： 28 ページ： 297-304 発行年： 1985年
JST資料番号： H0119C 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

単結晶や大粒子における応力-ひずみ分析のため,試料のΨ回転と...

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X線技術 , 金属材料 , X線回折法

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