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J-GLOBAL ID：200902084391614378   整理番号：87A0037517

電子ビームシステムのVLSI故障診断への統合化

Integrating an electron-beam system into VLSI fault diagnosis.

著者 (2件)： TAMAMA T (NTT Electrical Communications Lab., Atsugi, JPN) ,  KUJI N (NTT Electrical Communications Lab., Atsugi, JPN)
資料名： IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)
巻： 3  号： 4  ページ： 23-29  発行年： 1986年08月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ノード位置の同定化の困難性ゆえにその適用性が制限されていた電...

シソーラス用語： 超LSI ,...

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分類 (3件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子ビーム ,  VLSI ,  故障診断 ,  統合化