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J-GLOBAL ID：200902084394076377   整理番号：82A0460042

LSI構成材料中のウラン,トリウム,α放射体の評価

著者 (9件)： 工藤きよし (電電公社茨城電通研) ,  穴山ひろし (電電公社武蔵野電通研) ,  重松俊夫 (電電公社茨城電通研) ,  平井昭司 (武蔵工大原子力研) ,  野崎正 (理研) ,  荒谷美智 (理研) ,  大塚秀子 (理研) ,  岡野真治 (理研) ,  岡本祥一 (長岡技科大)
資料名： Radioisotopes  (Radioisotopes)
巻： 31  号： 9  ページ： 490-499  発行年： 1982年09月 
JST資料番号： G0494A  ISSN： 0033-8303  CODEN： RAISAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 半導体メモリの蓄積データが,メモリパッケージから放出されるα...

シソーラス用語： LSI【IC】 ,...
準シソーラス用語： ランダムアクセスメモリ ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  その他の物質の放射化学的分析  (CC06100H)

引用文献 (3件)：

• 1) T.C. May and M.H. Woods: 16th Annual Proceedings, Reliability Phys., p.33 (1978)
• 2) 家田信明, 鳴海直明: 半導体トランジスタ研究会資料, SSD-80-47, 電子通信学会, (1980)
• 3) 本間中八郎, 他: 電気通信研究所研究実用化報告, 29, 1557 (1980)

タイトルに関連する用語 (5件)： LSI ,  ウラン ,  トリウム ,  α放射体 ,  評価