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J-GLOBAL ID：200902086862513987   整理番号：93A0120752

PZT薄膜の結晶学的相の特性評価

Characterization of PZT thin films crystallographic phases.

著者 (4件)： GOEHNER R P (Sandia National Lab., New Mexico) ,  EATOUGH M O (Sandia National Lab., New Mexico) ,  TUTTLE B A (Sandia National Lab., New Mexico) ,  HEADLEY T J (Sandia National Lab., New Mexico)
資料名： Advances in X-Ray Analysis  (Advances in X-Ray Analysis)
巻： 35A  ページ： 159-167  発行年： 1992年 
JST資料番号： H0119C  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 溶液スピニング法により作製した鉛ジルコニウムチタン酸塩(PZ...

シソーラス用語： 薄膜成長 ,...
準シソーラス用語： PZT【鉛化合物】

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分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (4件)： PZT ,  薄膜 ,  結晶学 ,  特性評価