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J-GLOBAL ID：200902090135649458   整理番号：91A0421733

超伝導薄膜の臨界電流密度と臨界温度の測定のための非接触法

A contactless method for measurement of the critical current density and critical temperature of superconducting films.
著者 (3件)：
CLAASSEN J H

CLAASSEN J H について

(Naval Research Lab., Washington, D.C.)

Naval Research Lab., Washington, D.C. について

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REEVES M E

REEVES M E について

(Naval Research Lab., Washington, D.C.)

Naval Research Lab., Washington, D.C. について

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SOULEN R J JR

SOULEN R J JR について

(Naval Research Lab., Washington, D.C.)

Naval Research Lab., Washington, D.C. について


資料名：
Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)

Review of Scientific Instruments について


巻： 62  号： 4  ページ： 996-1004  発行年： 1991年04月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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薄膜表面近傍に設置したコイルに高周波正弦波電流を流すことによ...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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非接触測定

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分類 (1件)：
分類
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超伝導状態の性質一般【’81~’92】 
(BM04020J)

超伝導状態の性質一般【’81~’92】 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
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超伝導薄膜

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臨界電流密度

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臨界温度

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非接触

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