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J-GLOBAL ID:200902090521538210   整理番号:90A0686607

半導体プロセス用プラズマの特性と制御

Characteristics and control of plasmas for processing of semiconductors.
著者 (1件):
資料名:
巻: 59  号:ページ: 912-916  発行年: 1990年07月 
JST資料番号: F0252A  ISSN: 0369-8009  CODEN: OYBSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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分類 (1件):
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プラズマ応用 
引用文献 (25件):
  • 1) 板谷良平:電気学会雑誌 110 (1990) 167.
  • 2) N. Itabashi, K. Kato, N. Nishiwaki, T. Goto, C. Yamada and E. Hirota: Jpn. J. Appl. Phys. 27 (1988) 1565.
  • 3) N. Itabashi, K. Kato, N. Nishiwaki, T. Goto, C. Yamada and E. Hirota: Jpn. J. Appl. Phys. 28 (1989) L 325.
  • 4) N. Itabashi, N. Nishiwaki, M. Magane, T. Goto, A. Matsuda, C. Yamada and E. Hirota: Proc. 7th Symp. Plasma Processing, Tokyo, 1990, p. 185.
  • 5) T. Mukai, K. Tachibana and H. Harima: Proc. 7th Symp. Plasma Processing, Tokyo, 1990, p. 201.
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