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J-GLOBAL ID：200902091434656173   整理番号：91A0342171

簡約I_DDQテストセット付きCMOS IC縮退故障達成度の向上

Increased CMOS IC stuck-at fault coverage with reduced I_DDQ test sets.

著者 (4件)： FRITZEMEIER R R (Sandia National Lab., NM) ,  SODEN J M (Sandia National Lab., NM) ,  TREECE R K (Sandia National Lab., NM) ,  HAWKINS C F (Univ. New Mexico, NM)
資料名： Proceedings. International Test Conference  (Proceedings. International Test Conference)
巻： 1990  ページ： 427-435  発行年： 1990年 
JST資料番号： E0211B  ISSN： 1089-3539  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： テストセットサイズの簡約と故障カバレージを拡大した自動テスト...

シソーラス用語： MOS集積回路 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 簡約 ,  テスト ,  CMOS ,  IC ,  縮退故障