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J-GLOBAL ID：200902092573841470   整理番号：86A0262750

内殻空孔の寿命を測定へのX線散乱の利用

On the use of X-ray scattering for the measurement of the lifetime of an inner-shell hole.

著者 (2件)： OHMURA Y (Tokyo Inst. Technology) ,  SUZUKI T (Sophia Univ., Tokyo)
資料名： Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)
巻： 55  号： 2  ページ： 699-700  発行年： 1986年02月 
JST資料番号： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線のオフ共鳴p・A散乱を用いて,内殻空孔の寿命を測定する方...

シソーラス用語： 内殻イオン化 ,...

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分類 (1件)： X線スペクトル  (BH03040J)

引用文献 (6件)：

• 1) E. J. McGuire: Atomic Inner-Shell Processes. I, ed. B. Crasemann (Academic Press, 1975) p. 309.
• 2) H. Kitamura: Jpn. J. Appl. Phys. 19 (1980) LI85;
•  Nucl. Instrum. & Methods 177 (1980) 235.
• 3) Y. Ohmura and T. Suzuki: J. Phys. Soc. Jpn. 53 (1984) 2807.
• 4) K. Namikawa and S. Hosoya: Phys. Rev. Lett. 53 (1984) 1606.

タイトルに関連する用語 (3件)： 内殻空孔 ,  寿命 ,  X線散乱