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J-GLOBAL ID：200902093450278130   整理番号：91A0357393

QUIETEST 漏れ故障検出のための静かな電流試験方法

QUIETEST: A quiescent current testing methodology for detecting leakage faults.

著者 (4件)： MAO W (Ford Microelectronics, Inc., CO) ,  GULATI R K (Ford Microelectronics, Inc., CO) ,  GOEL D K (Ford Microelectronics, Inc., CO) ,  CILETTI M D (Univ. Colorado, CO)
資料名： Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design  (Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)
巻： 1990  ページ： 280-283  発行年： 1990年 
JST資料番号： D0968C  ISSN： 1092-3152  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 階層的な漏れ故障解析方法をVLSI CMOS回路のIDDQテ...

シソーラス用語： 回路試験 ,...

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分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 漏れ ,  故障検出 ,  試験方法