文献

J-GLOBAL ID：200902099497561521   整理番号：81A0034286

非晶質半導体によるピコ秒オプトエレクトロニック検出,サンプリング及び相関測定

Picosecond optoelectronic detection, sampling, and correlation measurements in amorphous semiconductors.

著者 (4件)： AUSTON D H (Bell Lab., New Jersey) ,  JOHNSON A M (Bell Lab., New Jersey) ,  SMITH P R (Bell Lab., New Jersey) ,  BEAN J C (Bell Lab., New Jersey)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 37  号： 4  ページ： 371-373  発行年： 1980年08月15日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 蒸着非晶質シリコンの様な高密度の欠陥のある非晶質半導体の光応...

シソーラス用語： 非晶質半導体 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=81A0034286&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

分類 (3件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F) ,  光導電素子  (NC03083X) ,  非晶質・液体半導体の電気伝導  (BM03042G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 非晶質半導体 ,  ピコ秒 ,  サンプリング ,  相関