文献
J-GLOBAL ID:200902100251879865
整理番号:94A0113592
Compositional and structural analysis of strained Si/SiGe multilayers and interfaces by high resolution transmission electron microscopy.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=94A0113592©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=94A0113592&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0403B") }}
著者 (2件):
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資料名:
号:
134
ページ:
15-20
発行年:
1993年
JST資料番号:
E0403B
ISSN:
0305-2346
CODEN:
IPHSAC
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)
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