文献

J-GLOBAL ID：200902100576596100   整理番号：93A0661665

Pb(Zr,Ti)O₃薄膜キャパシタの疲労に対する結晶品質および電極材料の影響

Effects of crystalline quality and electrode material on fatigue in Pb(Zr,Ti)O₃ thin film capacitors.

著者 (7件)： LEE J (Rutgers-The State Univ. New Jersey, New Jersey) ,  JOHNSON L (Rutgers-The State Univ. New Jersey, New Jersey) ,  SAFARI A (Rutgers-The State Univ. New Jersey, New Jersey) ,  RAMESH R (Bellcore, New Jersey) ,  SANDS T (Bellcore, New Jersey) ,  GILCHRIST H (Bellcore, New Jersey) ,  KERAMIDAS V G (Bellcore, New Jersey)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 63  号： 1  ページ： 27-29  発行年： 1993年07月05日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Pb(Zr_0.52Ti<sub>0.4...

シソーラス用語： レーザ蒸着 ,...
準シソーラス用語： PZT【鉛化合物】 ,...

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分類 (2件)： その他の接合  (BM03088W) ,  記憶装置  (JC04060F)

タイトルに関連する用語 (8件)： Pb ,  Zr ,  Ti ,  O3 ,  薄膜キャパシタ ,  疲労 ,  結晶品質 ,  電極材料