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J-GLOBAL ID：200902101804931832   整理番号：02A0780965

原子間力顕微鏡像の自動化グリッチ検出/修復法

An automated glitch-detection/restoration method of atomic force microscope images.

著者 (8件)： HYON C (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  OH S (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  KIM H (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  SULL S (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  HWANG S (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  AHN D (Univ. Seoul, Seoul, KOR) ,  PARK Y (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR) ,  KIM E (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 73  号： 9  ページ： 3245-3250  発行年： 2002年09月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記の自動化グリッチ検出/修復法は,手動的な方法とは違って,...

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  光学情報処理  (BD03060T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 原子間力顕微鏡 ,  自動化 ,  グリッチ ,  修復