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J-GLOBAL ID：200902103874397550   整理番号：94A0099372

Single electron transfer from the channel of a sub-μm MOSFET to an individual interface trap.

著者 (3件)： SCHULZ M (Univ. Erlangen, Erlangen, DEU) ,  PAPPAS A (Univ. Erlangen, Erlangen, DEU) ,  VENNEMANN J (Univ. Erlangen, Erlangen, DEU)
資料名： Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2  (Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2)
ページ： 383-392  発行年： 1993年 
JST資料番号： K19940015  ISBN： 0-306-44419-4  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (2件)： MOSFET ,  TRAP