ピコ秒のサーモリフレクタンス技術を使用した金属薄膜のための熱拡散率の測定系の開発

TAKETOSHI N; BABA T; ONO A

文献

J-GLOBAL ID：200902105795825922 整理番号：02A0093654

ピコ秒のサーモリフレクタンス技術を使用した金属薄膜のための熱拡散率の測定系の開発

Development of a thermal diffusivity measurement system for metal thin films using a picosecond thermoreflectance technique.

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巻： 12 号： 12 ページ： 2064-2073 発行年： 2001年12月
JST資料番号： C0354C ISSN： 0957-0233 CODEN： MSTCEP 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

金属薄膜の熱拡散率を測定するためのピコ秒のサーモリフレクタン...

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光学的測定とその装置一般 , 金属薄膜 , その他の熱的変量の計測法・機器

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