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J-GLOBAL ID:200902106248044505   整理番号:99A0619506

集束イオンビームにより作製した近視野光学顕微鏡法用のナノスリットプローブ

Nano-slit probes for near-field optical microscopy fabricated by focused ion beams.
著者 (6件):
資料名:
巻: 194  号: 2/3  ページ: 335-339  発行年: 1999年05月 
JST資料番号: B0454B  ISSN: 0022-2720  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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高分解能近視野光/赤外顕微鏡法に適用するために金属化非接触原...
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分類 (1件):
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光学的測定とその装置一般 
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