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J-GLOBAL ID：200902107685543312   整理番号：94A0005156

Investigations on surface and bulk semiconductor properties using wavelength dependent TRMC measurements.

著者 (4件)： BETZ G (Phoenicon GmbH, Berlin, DEU) ,  GRUENDLER W (Phoenicon GmbH, Berlin, DEU) ,  QUICK J (Inst. Halbleiterphysik, Frankfurt/Oder, DEU) ,  RICHTER H (Inst. Halbleiterphysik, Frankfurt/Oder, DEU)
資料名： Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena  (Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)
巻： 32/33  ページ： 601-608  発行年： 1993年 
JST資料番号： T0583A  ISSN： 1012-0394  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)