GexSbyTez薄膜の反射率及び透過率測定による光学定数の取得

TSU D V

文献

J-GLOBAL ID：200902111226159388 整理番号：99A0751852

Ge_xSb_yTe_z薄膜の反射率及び透過率測定による光学定数の取得

Obtaining optical constants of thin Ge_xSb_yTe_z films from measurements of reflection and transmission.

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 17 号： 4,Pt.2 ページ： 1854-1860 発行年： 1999年07月
JST資料番号： C0789B ISSN： 0734-2101 CODEN： JVTAD6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

再書込可能な光学記録媒体として有望な標記薄膜(<50nm)の...

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光物性一般 , その他の無機化合物の薄膜

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