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J-GLOBAL ID：200902111557788725   整理番号：98A0986421

MOSFETの実効チャネル長と直列抵抗を求める新変分法

A New Variational Method to Determine Effective Channel Length and Series Resistance of MOSFET’s.

著者 (4件)： YAMAGUCHI K (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  AMISHIRO H (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  YAMAWAKI M (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN) ,  ASAI S (Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
資料名： Proceedings. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures  (Proceedings. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures)
巻： 1998  ページ： 123-126  発行年： 1998年 
JST資料番号： T0991A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MOSFETのチャネル長をディープサブミクロン以下にスケール...

シソーラス用語： *MOSFET ,...
準シソーラス用語： 実効チャネル長 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (4件)： MOSFET ,  チャネル長 ,  直列抵抗 ,  変分法