文献

J-GLOBAL ID：200902113470575493   整理番号：99A0535134

走査型プローブ顕微鏡で調べた金属多層膜の磁性の界面粗さ依存性

Scanning probe microscopy study of the interface roughness dependence of the magnetism of metallic multilayers.

著者 (4件)： EILERS G (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  YAMADA Y (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  MATSUI M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  MUKASA K (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 142  号： 1/4  ページ： 527-531  発行年： 1999年04月 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エピタキシャル成長させたFe/Cu(100)多層膜の界面をR...

シソーラス用語： *鉄 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0535134&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0707B") }}

分類 (2件)： 金属の磁区及び磁化過程  (BM06112D) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型プローブ顕微鏡 ,  多層膜 ,  磁性 ,  界面粗さ ,  依存性