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J-GLOBAL ID：200902113777675100   整理番号：01A1004465

超低コストテスタ 機会と挑戦

Very Low Cost Testers: Opportunities and Challenges.

著者 (4件)： BEDSOLE J (Motorola) ,  RAINA R (Motorola) ,  CROUCH A (Motorola) ,  ABADIR M S (Motorola)
資料名： IEEE Design & Test of Computers  (IEEE Design & Test of Computers)
巻： 18  号： 5  ページ： 60-69  発行年： 2001年09月 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 0740-7475  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： VLSI設計と半導体試験の両分野が協力することで,VLSIの...

シソーラス用語： *超LSI ,...
準シソーラス用語： 試験容易化設計

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分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (2件)： テスタ ,  機会