薄膜で覆われた組織化試料からの光電子信号のシミュレーション

文献

J-GLOBAL ID：200902114383447680 整理番号：01A0646339

Photoelectron signal simulation from textured samples covered by a thin film.

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巻： 62 号： 2/3 ページ： 297-302 発行年： 2001年06月15日
JST資料番号： E0347A ISSN： 0042-207X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

標記試料表面からのX線光電子スペクトル(XPS)強度の角分布...

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電子分光スペクトル , 薄膜一般

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