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J-GLOBAL ID：200902114706996220   整理番号：93A0704300

The use of syncrotron radiation X-ray diffraction topography to determine the spatial distribution of polytypes and one dimensional disorder in SiC.

著者 (3件)： KELLY J F (Univ. London, London) ,  BARNES P (Univ. London, London) ,  FISHER G R (Univ. London, London)
資料名： Phase Transitions  (Phase Transitions)
巻： 43  号： 1/4  ページ： 137-143  発行年： 1993年06月 
JST資料番号： B0799B  ISSN： 0141-1594  CODEN： PHTRDP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： SiC