A high energy X-ray computed tomography using silicon semiconductor detectors.

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J-GLOBAL ID：200902115831057720 整理番号：97A0682621

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資料名：
ページ： 816-820 発行年： 1997年
JST資料番号： K19970325 ISBN： 0-7803-3535-X 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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