文献

J-GLOBAL ID：200902116792803954   整理番号：99A0141322

近接場光学とナノエンジニアリング

Near-field optics and nano-engineering.

著者 (2件)： 井上康志 (大阪大 大学院) ,  河田聡 (大阪大 大学院)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 67  号： 12  ページ： 1376-1382  発行年： 1998年12月 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 金属微粒子や金属探針先端に光を照射すると,局所的な表面プラズ...

シソーラス用語： *走査光学顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： 近視野

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分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

引用文献 (35件)：

• 1) 河田 聡:光学 21, 766 (1992).
• 2) 河田 聡,井上康志:光学 26, 516 (1997).
• 3) 井上康志:光学 27, 598 (1998).
• 4) E. Betizig, K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner and R. L. Kostelak: Science, 251, 1468 (1991).
• 5) F. Zenhausern, M. P. O'Boyle and H. K. Wickramasinghe: Appl. Phys. Lett. 65, 1623 (1994).

タイトルに関連する用語 (2件)： 近接場光学 ,  エンジニアリング