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J-GLOBAL ID:200902116792803954   整理番号:99A0141322

近接場光学とナノエンジニアリング

Near-field optics and nano-engineering.
著者 (2件):
資料名:
巻: 67  号: 12  ページ: 1376-1382  発行年: 1998年12月 
JST資料番号: F0252A  ISSN: 0369-8009  CODEN: OYBSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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金属微粒子や金属探針先端に光を照射すると,局所的な表面プラズ...
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分類 (1件):
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光学的測定とその装置一般 
引用文献 (35件):
  • 1) 河田 聡:光学 21, 766 (1992).
  • 2) 河田 聡,井上康志:光学 26, 516 (1997).
  • 3) 井上康志:光学 27, 598 (1998).
  • 4) E. Betizig, K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner and R. L. Kostelak: Science, 251, 1468 (1991).
  • 5) F. Zenhausern, M. P. O'Boyle and H. K. Wickramasinghe: Appl. Phys. Lett. 65, 1623 (1994).
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タイトルに関連する用語 (2件):
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