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J-GLOBAL ID：200902116849571796   整理番号：99A0717146

sub-Å電子ビームに向けて

Towards sub-Å electron beams.

著者 (3件)： KRIVANEK O L (Nion R&D, WA, USA) ,  DELLBY N (Nion R&D, WA, USA) ,  LUPINI A R (Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 78  号： 1/4  ページ： 1-11  発行年： 1999年06月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： 電子ビーム