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J-GLOBAL ID：200902117938226888   整理番号：96A0104091

コヒーレント高エネルギーシンクロトロン放射を用いたX線位相差顕微撮像法の可能性

On the possibilities of x-ray phase contrast microimaging by coherent high-energy synchrotron radiation.

著者 (5件)： SNIGIREV A (ESRF, Grenoble, FRA) ,  SNIGIREVA I (ESRF, Grenoble, FRA) ,  KOHN V (Russian Res. Centre, “Kurchatov Inst.”, Moscow, SUN) ,  KUZNETSOV S (Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN) ,  SCHELOKOV I (Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 66  号： 12  ページ： 5486-5492  発行年： 1995年12月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 放射光施設ESRF(仏)の高輝度コヒーレントX線を用いて位相...

シソーラス用語： コヒーレント光 ,...

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分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (7件)： コヒーレント ,  高エネルギー ,  シンクロトロン放射 ,  X線 ,  位相差 ,  撮像 ,  可能性