2重シャッタドリフトチューブ法によるN<sub>2</sub>O中の電子輸送係数の測定

YOSHIDA K; SASAKI N; OHUCHI H; HASEGAWA H; SHIMOZUMA M; TAGASHIRA H

文献

J-GLOBAL ID：200902121136127172 整理番号：99A0481588

2重シャッタドリフトチューブ法によるN₂O中の電子輸送係数の測定

Measurement of electron-transport coefficients in N₂O by a double-shutter drift-tube method.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=99A0481588&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0481588&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0092B") }}

著者 (6件)： , , , , ,
資料名：
巻： 32 号： 8 ページ： 862-868 発行年： 1999年04月21日
JST資料番号： B0092B ISSN： 0022-3727 CODEN： JPAPBE 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

到着時間スペクトルに基づく2重シャッタドリフトチューブ法を使...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0481588&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0092B") }}

電離現象

, , ,

前のページに戻る

2重シャッタドリフトチューブ法によるN2O中の電子輸送係数の測定

2重シャッタドリフトチューブ法によるN₂O中の電子輸送係数の測定