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J-GLOBAL ID:200902121361796130   整理番号:95A1003936

表面キャラクタリゼーションの現状と将来/展望 表面キャラクタリゼーションの動向

Present and Future of Surface Characterization. Trend of the Characterization of Surface Roughness.
著者 (1件):
資料名:
巻: 61  号: 11  ページ: 1507-1510  発行年: 1995年11月 
JST資料番号: F0268A  ISSN: 0912-0289  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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部品表面のトポグラフィ(2~3次元凹凸)のキャラクタリゼーシ...
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分類 (1件):
分類
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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
引用文献 (21件):
  • JIS B 0601-1994表面粗さ-定義及び表示
  • ISO 468-1982, Surface roughness-Parameters, their values and general rules for specifying requirements
  • DONG, W. P. Comprehensive Study of Parameters for Characterising Three-dimensional Surface Topography. Wear. 1993, 167, 161
  • ISO 1878-1983 : Classification of instruments and devices for measurement and evaluation of the geometrical parameters of surfac
  • ISO 4287/1-1984 Surface roughness-Terminology-Part 1 : Surface and its parameters
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タイトルに関連する用語 (5件):
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