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J-GLOBAL ID:200902121387642297   整理番号:98A0089939

低基板温度で液体源有機金属化学蒸着による(Ba,Sr)TiO3薄膜の堆積特性

Deposition Characteristics of (Ba, Sr)TiO3 Thin Films by Liquid Source Metal-Organic Chemical Vapor Deposition at Low Substrate Temperatures.
著者 (9件):
資料名:
巻: 36  号: 11  ページ: 6946-6952  発行年: 1997年11月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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直径6インチのPt/SiO2/Siウエ...
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 
引用文献 (14件):
  • 1) A. Yuuki, M. Yamamuka, T. Makita, T. Horikawa, T. Shibano, N. Hirano, H. Maeda, N. Mikami, K. Ono, H. Ogata and H. Abe: Proc. Int. Electron Devices Meet. (IEEE, New York, 1995) p. 115.
  • 2) Y. Nishioka, K. Shiozawa, T. Oishi, K. Kanamoto, Y. Tokuda, H. Sumitani, S. Aya, H. Yabe, K. Itoga, T. Hifumi, K. Marumoto, T. Kuroiwa, T. Kawahara, K. Nishikawa, T. Oomori, T. Fujino, S. Yamamoto, S. Uzawa, M. Kimata, M. Nunoshita and H. Abe: Proc. Int. Electron Devices Meet. (IEEE, New York, 1995) p. 903.
  • 3) K. P. Lee, Y. S. Park, D. H. Ko, C. S. Hwang, C. J. Kang, K. Y. Lee, J. S. Kim, J. K. Park, B. H. Roh, J. Y. Lee, B. C. Kim, J. H. Lee, K. N. Kim, J. W. Park and J. G. Lee: Proc. Int. Electron Devices Meet. (IEEE, New York, 1995) p. 907.
  • 4) H. Yamamichi, T. Iizuka, H. Koga, K. Takemura, S. Sone, H. Yabuta, S. Yamamichi, P-Y. Lesaicherre, M. Suzuki, Y. Kojima, K. Nakajima, N. Kasai, T. Sakuma, Y. Kato, Y. Miyasaka, M. Yoshida and S. Nishimoto: Proc. Int. Electron Devices Meet. (IEEE, New York, 1996) p. 675.
  • 5) T. Kawakubo, K. Abe, S. Komatsu, K. Sano, N. Yanase and H. Mochizuki: Proc. Int. Electron Devices Meet. (IEEE, New York, 1996) p. 695.
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