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J-GLOBAL ID：200902122229418114   整理番号：02A0862254

シヤリング干渉計を用いた微分X線位相コントラスト成像

Differential x-ray phase contrast imaging using a shearing interferometer.

著者 (4件)： DAVID C (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  NOEHAMMER B (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  SOLAK H H (Paul Scherrer Inst., Villigen, CHE) ,  ZIEGLER E (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 81  号： 17  ページ： 3287-3289  発行年： 2002年10月21日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線の波面の歪を解析するために,二つの透過位相格子を使うX線...

シソーラス用語： *シヤリング干渉計 ,...

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分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (5件)： シヤリング干渉計 ,  微分 ,  X線 ,  位相コントラスト ,  成像