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J-GLOBAL ID：200902123035416478   整理番号：02A0555297

光音響顕微鏡法による表層欠陥形状の測定

Ultrasonic Electronics. Measurement of Subsurface Defect Shape by Photoacoustic Microscopy.

著者 (4件)： ENDOH H (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN) ,  MIYAMOTO K (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN) ,  HIWATASHI Y (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN) ,  HOSHIMIYA T (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 41  号： 5B  ページ： 3361-3362  発行年： 2002年05月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光音響顕微鏡を用いて表層欠陥の形状を測定できることを実証した...

シソーラス用語： *内部欠陥 ,...

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分類 (2件)： その他の光学的効果  (BM08040H) ,  音響測定  (BB03040R)

引用文献 (7件)：

• 1) P. V. McLaughlin, Jr., M. G. Mirchandani and P. V. Ciekurs: Trans. ASME. J. Eng. Mater. Technol. 109 (1987) 146.
• 2) Y.-L. Wang, F.-Z. Shen and S.-T. Tu: Eng. Frac. Mech. 47 (1993) 39.
• 3) T. Hoshimiya, H. Endoh and Y. Hiwatashi: Jpn. J. Appl. Phys. 35 (1996) 2916.
• 4) H. Endoh, Y. Hiwatashi and T. Hoshimiya: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) 3312.
• 5) H. Endoh, S. Sugawara, R. Mukai, Y. Hiwatashi and T. Hoshimiya: Jpn. J. Appl. Phys. 37 (1998) 3140.

タイトルに関連する用語 (3件)： 光音響顕微鏡 ,  表層 ,  欠陥