Nondestructive inspection of crystal defects in LiNbO<sub>3</sub> wafers by using an optical technique.

文献

J-GLOBAL ID：200902123534017843 整理番号：00A0564516

Nondestructive inspection of crystal defects in LiNbO₃ wafers by using an optical technique.

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資料名：
巻： 3936 ページ： 101-106 発行年： 2000年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別：会議録 (C)
発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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