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J-GLOBAL ID：200902124275744525   整理番号：01A0620960

濡れの原子・電子論的解析

Electronic Analyses of Wetting Phenomena using ab-initio Molecular Orbital Calculation.
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著者 (3件)：
豊田洋通

豊田洋通 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について

, 
井出たかし

井出たかし について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について

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八木秀次

八木秀次 について

(愛媛大 工)

愛媛大 工 について


資料名：
愛媛大学工学部紀要  (Memoirs of the Faculty of Engineering, Ehime University)

愛媛大学工学部紀要 について


巻： 20  ページ： 19-28  発行年： 2001年02月 
JST資料番号： F0035A  ISSN： 0285-6107  CODEN： EDGKAP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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濡れの界面を形成する液体金属と基板原子で構成される二原子分子...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*濡れ

濡れ について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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分子模型

分子模型 について

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分類 (1件)：
分類
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固-液界面 
(CB12050B)

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物質索引 (1件)：
物質索引
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エチレン

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タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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濡れ

濡れ について

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原子

原子 について

, 
電子論

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, 
解析

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