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J-GLOBAL ID：200902124732519737   整理番号：00A0181092

電子ビーム蒸着法によるSnO_x薄膜陰極の電気化学及び充放電特性

Charge/Discharge Performance of Electron Beam Deposited Tin Oxide Thin Film Negative Electrodes.

著者 (6件)： NAM S C (Korea Univ., Seoul, KOR) ,  YOON Y S (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR) ,  CHO W I (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR) ,  CHO B W (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR) ,  YUN K S (Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR) ,  CHUN H S (Korea Univ., Seoul, KOR)
資料名： 電気化学および工業物理化学  (Electrochemistry)
巻： 68  号： 1  ページ： 32-37  発行年： 2000年01月05日 
JST資料番号： G0072A  ISSN： 1344-3542  CODEN： EECTFA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： リチウム二次電池の負極材料として,ステンレス鋼上に電子ビーム...

シソーラス用語： *リチウム二次電池 ,...
準シソーラス用語： 陰極 ,...

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分類 (1件)： 二次電池  (YB04030K)

引用文献 (8件)：

• IDOTA, Y. Eur. Pat. Appl. 651450 Al 950503. 1995
• IDOTA, Y. Science. 1997, 276, 1395
• COURTNEY, I. A. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 2045
• COURTNEY, I. A. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 2943
• BROUSSE, T. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 1

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子ビーム蒸着 ,  薄膜 ,  陰極 ,  電気化学 ,  充放電特性