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J-GLOBAL ID:200902125744637707   整理番号:93A0546551

走査トンネル顕微鏡(STM)と原子間力顕微鏡(AFM)による大気条件での物質の表面特性評価

Surface Characterization of Materials at Ambient Conditions by Scanning Tunneling Microscopy (STM) and Atomic Force Microscopy (AFM).
著者 (1件):
資料名:
巻: 28  号: 1/2  ページ: 1-121  発行年: 1993年03月 
JST資料番号: B0804A  ISSN: 0570-4928  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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STMとAFMによる表面構造研究を解説した。両者の基本原理と...
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
固体の表面構造一般  ,  顕微鏡法 

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