荷電K中間子タギングを用いたZ<sup>0</sup>崩壊におけるA<sub>b</sub>の直接測定

ABE K; ALLEN N J; CAMANZI B; EISENSTEIN B I; KROEGER R S; TAYLOR F E; WILLIAMS S H; WRIGHT T R; ZHOU J

文献

J-GLOBAL ID：200902126704894231 整理番号：99A0891590

荷電K中間子タギングを用いたZ⁰崩壊におけるA_bの直接測定

Direct Measurement of A_b in Z⁰ Decays Using Charged Kaon Tagging.

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資料名：
巻： 83 号： 10 ページ： 1902-1907 発行年： 1999年09月06日
JST資料番号： H0070A ISSN： 0031-9007 CODEN： PRLTAO 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

B中間子崩壊で生じる荷電K中間子を利用してbと<span s...

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中間子の崩壊

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荷電K中間子タギングを用いたZ0崩壊におけるAbの直接測定

荷電K中間子タギングを用いたZ⁰崩壊におけるA_bの直接測定