イオンエッチング後にエネルギー分散型X線微量分析を組合せた走査型電子顕微鏡検査法を用いて,エポキシ樹脂半薄切片で線維芽細胞に取込まれた細胞マーカーを検出し,存在部位を明らかにする新しい手法

FUJIWARA T; SHIMIZU D; KON K; ISSHIKI N; TSUNOKUNI H; AOYAGI S

文献

J-GLOBAL ID：200902128410020759 整理番号：00A0796186

イオンエッチング後にエネルギー分散型X線微量分析を組合せた走査型電子顕微鏡検査法を用いて,エポキシ樹脂半薄切片で線維芽細胞に取込まれた細胞マーカーを検出し,存在部位を明らかにする新しい手法

A new method for detecting and localizing cell markers endocytosed by fibroblasts in epoxy resin semi-thin sections using scanning electron microscopy combined with energy dispersive X-ray microanalysis after ion-etching.

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著者 (6件)： , , , , ,
資料名：
巻： 49 号： 4 ページ： 551-558 発行年： 2000年
JST資料番号： G0104A ISSN： 0022-0744 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

細胞マーカーとして炭素粒子を取込ませたウサギ結合組織由来の線...

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細胞生理一般 , 生体の顕微鏡観察法

引用文献 (37件)：

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