変電所整流器に用いられる電力半導体素子の長期信頼性評価

文献

J-GLOBAL ID：200902130765524558 整理番号：99A0017777

Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices Used in Substation Rectifiers.

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資料名：
ページ： 195-198 発行年： 1998年
JST資料番号： K19980600 ISBN： 0-7803-4752-8 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

商用変電所で用いる電力半導体素子の長期信頼性の評価を可能にす...

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サイリスタ , 固体デバイス計測・試験・信頼性

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