単色光微細プローブX線蛍光による微量分析  物理的基礎,特性,および将来の見通し

CHEN Z W; WITTRY D B

文献

J-GLOBAL ID：200902131162767533 整理番号：98A0729141

単色光微細プローブX線蛍光による微量分析物理的基礎,特性,および将来の見通し

Microanalysis by monochromatic microprobe x-ray fluorescence. Physical basis, properties, and future prospects.

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巻： 84 号： 2 ページ： 1064-1073 発行年： 1998年07月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

以前にJohann湾曲型集束回折子に雲母を用いる標記分析装置...

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無機物質中の元素の物理分析 , X線スペクトル一般

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単色光微細プローブX線蛍光による微量分析 物理的基礎,特性,および将来の見通し

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