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J-GLOBAL ID：200902131293551900   整理番号：96A0521838

コンピュータエレクトロニクスにおけるソフトエラーに関するIBM社の実験(1978-1994)

IBM experiments in soft fails in computer electronics (1978-1994).

著者 (9件)： ZIEGLER J F (IBM Res. Div., New York) ,  CURTIS H W (IBM Res. Div., New York) ,  MUHLFELD H P (IBM Microelectronics Div., New York) ,  WANG W Y (IBM Systems Technol. and Architecture Div., Texas) ,  ORRO J M (Personal Computer Co., North Carolina) ,  ENGER T A (IBM System/390 Div., New York) ,  TOLAT V (IBM Corp.) ,  TABER A H (Loral Federal Systems Co., New York) ,  WAHAUS C W (IBM Corp.)
資料名： IBM Journal of Research and Development  (IBM Journal of Research and Development)
巻： 40  号： 1  ページ： 3-18  発行年： 1996年01月 
JST資料番号： D0061B  ISSN： 0018-8646  CODEN： IBMJAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 放射線に起因するLSIエレクトロニクスのソフトエラー評価に関...

シソーラス用語： LSI【IC】 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： コンピュータ ,  エレクトロニクス ,  ソフトエラー ,  IBM ,  実験