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J-GLOBAL ID：200902133932515280   整理番号：95A0355199

Laue法を用いた多色シンクロトロン放射による微小部回折システムの開発

Development of a microarea diffraction system by polychromatic synchrotron radiation with the Laue method.

著者 (7件)： OHSUMI K (National Lab. High Energy Physics(KEK), Ibaraki, JPN) ,  HAGIYA K (Himeji Inst. Technology, Hyogo, JPN) ,  UCHIDA M (Graduate Univ. Advanced Studies, Ibaraki, JPN) ,  SUDA N (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MIYAMOTO M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KITAMURA M (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  OHMASA M (Himeji Inst. Technology, Hyogo, JPN)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 66  号： 2 Pt 2  ページ： 1448-1450  発行年： 1995年02月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Laue法と多色シンクロトロン放射の組合せを用いた,微小ピン...

シソーラス用語： X線回折計 ,...

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (6件)： Laue法 ,  多色 ,  シンクロトロン放射 ,  微小 ,  回折 ,  開発