最大エントロピー法で求めた電荷密度へのデータセットの完全性の影響 Siの電子密度分布の再検討

TAKATA M; SAKATA M

文献

J-GLOBAL ID：200902134939761509 整理番号：96A0373712

最大エントロピー法で求めた電荷密度へのデータセットの完全性の影響 Siの電子密度分布の再検討

The Influence of the Completeness of the Data Set on the Charge Density Obtained with the Maximum-Entropy Method. A Re-examination of the Electron-Density Distribution in Si.

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巻： 52 号： 2 ページ： 287-290 発行年： 1996年03月01日
JST資料番号： A0315B ISSN： 0108-7673 CODEN： ACACEQ 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

最大エントロピー法(MEM)で導いた電荷密度はある程度データ...

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X線回折法

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