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J-GLOBAL ID:200902136088827857   整理番号:94A0169945

歪Si1-xGex/Si量子井戸の飛行時間法(ToF)による励起子拡散測定

Time-resolved photoluminescence and Time-of-flight characterization of exciton diffusivity in strained Si1-xGex/Si quantum wells.
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資料名:
巻: 54th  号:ページ: 219  発行年: 1993年09月 
JST資料番号: Y0055A  資料種別: 会議録 (C)
発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)

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