文献
J-GLOBAL ID:200902136088827857
整理番号:94A0169945
歪Si1-xGex/Si量子井戸の飛行時間法(ToF)による励起子拡散測定
Time-resolved photoluminescence and Time-of-flight characterization of exciton diffusivity in strained Si1-xGex/Si quantum wells.
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