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J-GLOBAL ID：200902136126180170   整理番号：99A0614394

摩擦信号の波形解析による顕微引かき試験における金属薄膜の付着失敗の確実な検出

Unambiguous detection of the adhesive failure of metal films in the microscratch test by waveform analysis of the friction signal.

著者 (3件)： BABA S (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  MIDORIKAWA T (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  NAKANO T (Seikei Univ., Tokyo, JPN)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 144/145  ページ： 344-349  発行年： 1999年04月 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 延性膜のように破砕信号を明瞭に観察できない場合にも付着失敗を...

シソーラス用語： *金属薄膜 ,...

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分類 (1件)： 金属の機械的性質  (BL01022T)

タイトルに関連する用語 (5件)： 摩擦 ,  波形解析 ,  引かき試験 ,  金属薄膜 ,  失敗