Siチップからの電界放出電流  超高速時間分解測定

文献

J-GLOBAL ID：200902139086609002 整理番号：02A0765162

Siチップからの電界放出電流超高速時間分解測定

Field emission current from Si tip: Ultra-fast time resolved measurements.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=02A0765162&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0765162&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0129B") }}

著者 (4件)： , , ,
資料名：
巻： 515 号： 2/3 ページ： 369-376 発行年： 2002年09月01日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

Siチップからの電界放出電流を時間分解測定した。金属チップ上...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0765162&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0129B") }}

熱電子放出,電界放出 , 物理的手法を用いた吸着の研究

, ,

前のページに戻る