文献

J-GLOBAL ID：200902139659926717   整理番号：96A1010075

高分解能物質分析のためのサブミクロンマイクロビーム装置

Sub-micron microbeam apparatus for high resolution materials analyses.

著者 (3件)： KAMIYA T (Japan Atomic Energy Res. Inst., Gunma, JPN) ,  SUDA T (Japan Atomic Energy Res. Inst., Gunma, JPN) ,  TANAKA R (Japan Atomic Energy Res. Inst., Gunma, JPN)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 118  号： 1/4  ページ： 447-450  発行年： 1996年09月 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PIXE,RBS又はNRAを用いた物質分析のため軽イオンマイ...

シソーラス用語： イオンビーム ,...
準シソーラス用語： NRA【表面分析】

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=96A1010075&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0899A") }}

分類 (2件)： 電子源,イオン源  (BD02020U) ,  放射化学的分析一般  (CC06010J)

タイトルに関連する用語 (3件)： 高分解能 ,  物質 ,  分析